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SN74ABTH18652APM

SN74ABTH18652APM

Solo per riferimento

Numero parte SN74ABTH18652APM
PNEDA Part # SN74ABTH18652APM
Descrizione IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 8.232
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata giu 14 - giu 19 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74ABTH18652APM Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74ABTH18652APM
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74ABTH18652APM Specifiche

Produttore
Serie74ABTH
Tipo di logicaScan Test Device With Transceivers And Registers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit18
Temperatura di esercizio-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia64-LQFP
Pacchetto dispositivo fornitore64-LQFP (10x10)

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

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Temperatura di esercizio

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Tipo di montaggio

Surface Mount

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Produttore

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Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

3.3V, 5V

Numero di bit

4

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

20-SOIC

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Produttore

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Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

5

Temperatura di esercizio

0°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

28-LCC (J-Lead)

Pacchetto dispositivo fornitore

28-PLCC (11.51x11.51)

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Texas Instruments

Produttore

Serie

74LV

Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

4.5V ~ 5.5V

Numero di bit

19

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

48-SSOP

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