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SN74ABTH18652APM

SN74ABTH18652APM

Solo per riferimento

Numero parte SN74ABTH18652APM
PNEDA Part # SN74ABTH18652APM
Descrizione IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 8.232
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata giu 12 - giu 17 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74ABTH18652APM Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74ABTH18652APM
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74ABTH18652APM Specifiche

Produttore
Serie74ABTH
Tipo di logicaScan Test Device With Transceivers And Registers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit18
Temperatura di esercizio-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia64-LQFP
Pacchetto dispositivo fornitore64-LQFP (10x10)

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Tipo di montaggio

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Pacchetto / Custodia

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20-SOIC

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Serie

100E

Tipo di logica

Differential Receiver

Tensione di alimentazione

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Numero di bit

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Temperatura di esercizio

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Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

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Pacchetto dispositivo fornitore

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

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Temperatura di esercizio

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Tipo di montaggio

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Produttore

Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Temperatura di esercizio

0°C ~ 70°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

20-SSOP (0.209", 5.30mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

20-SSOP

PT7C5038B1-2GDE

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Produttore

Diodes Incorporated

Serie

-

Tipo di logica

-

Tensione di alimentazione

-

Numero di bit

-

Temperatura di esercizio

-

Tipo di montaggio

-

Pacchetto / Custodia

-

Pacchetto dispositivo fornitore

-

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