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SN74ABT8245DWG4

SN74ABT8245DWG4

Solo per riferimento

Numero parte SN74ABT8245DWG4
PNEDA Part # SN74ABT8245DWG4
Descrizione IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 5.706
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata giu 12 - giu 17 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74ABT8245DWG4 Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74ABT8245DWG4
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74ABT8245DWG4 Specifiche

Produttore
Serie74ABT
Tipo di logicaScan Test Device with Bus Transceivers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit8
Temperatura di esercizio-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore24-SOIC

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Produttore

Microchip Technology

Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

3.3V, 5V

Numero di bit

1

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

8-MSOP

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Produttore

Serie

74ABT

Tipo di logica

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

Tensione di alimentazione

4.5V ~ 5.5V

Numero di bit

8

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

28-SOIC

SN74AS181ADWG4

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Produttore

Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

4.5V ~ 5.5V

Numero di bit

-

Temperatura di esercizio

0°C ~ 70°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

24-SOIC

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