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SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Solo per riferimento

Numero parte SN74BCT8240ADWRG4
PNEDA Part # SN74BCT8240ADWRG4
Descrizione IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 6.372
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata giu 7 - giu 12 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74BCT8240ADWRG4 Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74BCT8240ADWRG4
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74BCT8240ADWRG4 Specifiche

Produttore
Serie74BCT
Tipo di logicaScan Test Device with Inverting Buffers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit8
Temperatura di esercizio0°C ~ 70°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore24-SOIC

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Tipo di montaggio

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

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Temperatura di esercizio

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Surface Mount

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

1

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

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Pacchetto dispositivo fornitore

8-TSSOP

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Produttore

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Serie

-

Tipo di logica

Configurable Registered Buffer for DDR2

Tensione di alimentazione

1.7V ~ 1.9V

Numero di bit

25, 14

Temperatura di esercizio

0°C ~ 70°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

96-LFBGA

Pacchetto dispositivo fornitore

96-CABGA (13.5x5.5)

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