SN74ABT8952DLR
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| Numero parte | SN74ABT8952DLR |
| PNEDA Part # | SN74ABT8952DLR |
| Descrizione | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 5.364 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | lug 24 - lug 29 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74ABT8952DLR Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74ABT8952DLR |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABT8952DLR Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74ABT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 8 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 28-SSOP |
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Produttore IDT, Integrated Device Technology Inc Serie - Tipo di logica Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR Tensione di alimentazione 2.3V ~ 2.7V Numero di bit 13, 26 Temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C Tipo di montaggio Surface Mount Pacchetto / Custodia 56-VFQFN Exposed Pad Pacchetto dispositivo fornitore 56-VFQFPN (8x8) |
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