SN74ABT8245DWR
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Numero parte | SN74ABT8245DWR |
PNEDA Part # | SN74ABT8245DWR |
Descrizione | IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC |
Produttore | Texas Instruments |
Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
Disponibile | 8.298 |
Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
Consegna stimata | nov 3 - nov 8 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74ABT8245DWR Risorse
Brand | Texas Instruments |
ECAD Module | |
Mfr. Numero di parte | SN74ABT8245DWR |
Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABT8245DWR Specifiche
Produttore | |
Serie | 74ABT |
Tipo di logica | Scan Test Device with Bus Transceivers |
Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
Numero di bit | 8 |
Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / Custodia | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 24-SOIC |
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