SN74ABT18245ADGGR
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| Numero parte | SN74ABT18245ADGGR | ||||||||||||||||||
| PNEDA Part # | SN74ABT18245ADGGR | ||||||||||||||||||
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | ||||||||||||||||||
| Produttore | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| Prezzo unitario |
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| Disponibile | 1.050 | ||||||||||||||||||
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Consegna stimata | giu 5 - giu 10 (Scegli Spedizione rapida) | ||||||||||||||||||
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SN74ABT18245ADGGR Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74ABT18245ADGGR |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABT18245ADGGR Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74ABT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 56-TSSOP |
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