SN74LVTH182512DGGR
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| Numero parte | SN74LVTH182512DGGR |
| PNEDA Part # | SN74LVTH182512DGGR |
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 4.932 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | mag 17 - mag 22 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74LVTH182512DGGR Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74LVTH182512DGGR |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74LVTH182512DGGR Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74LVTH |
| Tipo di logica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Tensione di alimentazione | 2.7V ~ 3.6V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 64-TSSOP |
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