SN74LVTH182502APM
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| Numero parte | SN74LVTH182502APM |
| PNEDA Part # | SN74LVTH182502APM |
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 14.790 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | mag 17 - mag 22 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74LVTH182502APM Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74LVTH182502APM |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74LVTH182502APM Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74LVTH |
| Tipo di logica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Tensione di alimentazione | 2.7V ~ 3.6V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 64-LQFP |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 64-LQFP (10x10) |
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Produttore NXP USA Inc. Serie - Tipo di logica 1:2 Configurable Registered Buffer Tensione di alimentazione 1.7V ~ 1.9V Numero di bit 25, 14 Temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C Tipo di montaggio Surface Mount Pacchetto / Custodia 96-LFBGA Pacchetto dispositivo fornitore 96-LFBGA (13.5x5.5) |
