SN74ABTH18646APM
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| Numero parte | SN74ABTH18646APM | ||||||||||||||||||
| PNEDA Part # | SN74ABTH18646APM | ||||||||||||||||||
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | ||||||||||||||||||
| Produttore | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| Prezzo unitario |
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| Disponibile | 194 | ||||||||||||||||||
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Consegna stimata | lug 16 - lug 21 (Scegli Spedizione rapida) | ||||||||||||||||||
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SN74ABTH18646APM Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
|
| Mfr. Numero di parte | SN74ABTH18646APM |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABTH18646APM Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74ABTH |
| Tipo di logica | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 64-LQFP |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 64-LQFP (10x10) |
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Produttore Serie 74ABT Tipo di logica Scan Test Device with Bus Transceivers Tensione di alimentazione 4.5V ~ 5.5V Numero di bit 8 Temperatura di esercizio -40°C ~ 85°C Tipo di montaggio Surface Mount Pacchetto / Custodia 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Pacchetto dispositivo fornitore 24-SOIC |
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Produttore Serie 74ABT Tipo di logica Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers Tensione di alimentazione 4.5V ~ 5.5V Numero di bit 8 Temperatura di esercizio -40°C ~ 85°C Tipo di montaggio Surface Mount Pacchetto / Custodia 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Pacchetto dispositivo fornitore 28-SOIC |
