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SN74ABT18504PM

SN74ABT18504PM

Solo per riferimento

Numero parte SN74ABT18504PM
PNEDA Part # SN74ABT18504PM
Descrizione IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 7.764
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata mag 18 - mag 23 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74ABT18504PM Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74ABT18504PM
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74ABT18504PM Specifiche

Produttore
Serie74ABT
Tipo di logicaScan Test Device with Universal Bus Transceivers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit20
Temperatura di esercizio-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia64-LQFP
Pacchetto dispositivo fornitore64-LQFP (10x10)

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Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

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Pacchetto dispositivo fornitore

160-TFBGA (9x13)

SN74F1016DWR

Texas Instruments

Produttore

Serie

74F

Tipo di logica

Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

Tensione di alimentazione

-

Numero di bit

16

Temperatura di esercizio

0°C ~ 70°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

20-SOIC

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Produttore

Microchip Technology

Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

1

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

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Produttore

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Tipo di logica

Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array

Tensione di alimentazione

-

Numero di bit

16

Temperatura di esercizio

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20-TSSOP

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Serie

SY58

Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

2.375V ~ 2.625V, 3V ~ 3.6V

Numero di bit

1

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

8-VFDFN Exposed Pad, 8-MLF®

Pacchetto dispositivo fornitore

8-MLF® (2x2)

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